1.
Illahi RR, Budianto A, Mubarokah ZR, Kurniawidi DW, Alaa S, Ardianto T, dkk. Workshop Analisis Kristalografi Dengan Metode Rietveld Menggunakan Aplikasi X’Pert Highscore. JPMPI [Internet]. 26 Juni 2023 [dikutip 23 Juli 2024];6(2):350-4. Tersedia pada: https://jppipa.unram.ac.id/index.php/jpmpi/article/view/4463